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      如何準確地測量芯片的電源噪聲

      發布時間:2021-02-05 責任編輯:wenwei

      【導讀】隨著5G、車聯網等技術的飛速發展,信號的傳輸速度越來越快,集成電路芯片的供電電壓隨之越來越小。早期芯片的供電通常是5V和3.3V,而現在高速IC的供電電壓已經到了2.5V、1.8V或1.5V,有的芯片的核電壓甚至到了1V。芯片的供電電壓越小,電壓波動的容忍度也變得越苛刻。對于這類供電電壓較小的高速芯片的電壓測試用電源噪聲表示,測求要求從±5%到 ±-1.5%,乃至更低。
       
      1 日益發展的技術對芯片電壓測試的挑戰
       
      隨著5G、車聯網等技術的飛速發展,信號的傳輸速度越來越快,集成電路芯片的供電電壓隨之越來越小。早期芯片的供電通常是5V和3.3V,而現在高速IC的供電電壓已經到了2.5V、1.8V或1.5V,有的芯片的核電壓甚至到了1V。芯片的供電電壓越小,電壓波動的容忍度也變得越苛刻。對于這類供電電壓較小的高速芯片的電壓測試用電源噪聲表示,測求要求從±5%到 ±-1.5%,乃至更低。
       
      如何準確地測量芯片的電源噪聲
      圖1 日益發展的技術對芯片電壓測試的挑戰
       
      如果芯片的電源噪聲沒有達到規范要求,就會影響產品的性能,乃至整機可靠性。因此工程師需要準確地測量現代電路產品中的芯片電壓的電源噪聲。
       
      2 芯片電源噪聲的特點
       
      2.1 更小幅度,更高頻率
       
      以往電源噪聲的要求維持在幾十mV的量級,而隨著芯片電壓的降低,很多芯片的電源噪聲已經到了mV的量級,某些電源敏感的芯片要求甚至到了百uV的量級。直流電源上的噪聲是數字系統中時鐘和數據抖動的主要來源。處理器、內存等芯片對直流電源的動態負載隨著各自時鐘頻率而發生,并可能在直流電源上耦合高速瞬態變化和噪聲,它們包含了1 GHz以上的頻率成分。
       
      因此與傳統的電源相比,芯片電源的噪聲具有頻率高/幅度小等特點,這就為了工程師準確地測得芯片的電源噪聲帶來了挑戰。
       
      如何準確地測量芯片的電源噪聲
      表1 傳統電源和芯片電源頻率和噪聲范圍
       
      2.2 電源分布網絡(PDN)引入的噪聲干擾
       
      為了保證電路上各個芯片的供電,電源分布網絡(PDN)遍布整個PCB。如果電源分布網絡靠近時鐘或者數據的PCB走線,那么時鐘/數據的變化會耦合到電源分布網絡上,也會成為電源噪聲的來源。在這種情況下,工程師還需要定位電源噪聲的來源,以便后續調整PCB的布局和布線,減少PDN網絡受到的干擾。
       
      如何準確地測量芯片的電源噪聲
      圖2 時鐘/數據傳輸線耦合到電源分布網絡的干擾
       
      3 影響電源噪聲測試準確性的因素
       
      示波器是電源噪聲測試的重要儀器。為了能夠準確地測量GHz帶寬內mV級別的電源噪聲,并定位干擾電源分布網絡的噪聲來源,需要考慮如下因素:示波器的底噪,探頭的衰減比,示波器的偏置補償能力,探頭的探接方式,以及示波器的FFT能力等等。      
           
      3.1 示波器底噪
       
      示波器本身是有噪聲的。當示波器測試電源噪聲時,其底噪會附加到被測的電源噪聲上,進而影響電源噪聲的測試結果。
       
      如何準確地測量芯片的電源噪聲
      圖3 示波器底噪對電源噪聲測試結果的影響
       
      3.2 探頭的衰減比
       
      目前最常用的500MHz帶寬的無源探頭的衰減比為10:1,其會放大示波器的底噪,影響電源噪聲測試的不確定性。
       
      如果用傳統的衰減比為1:1的無源探頭,可以避免放大示波器的底噪。但是這種探頭的帶寬一般在38MHz,無法測到更高頻率的電源噪聲。同樣會影響電源噪聲測試的不確定性。
       
      所以,為了準確測量電源噪聲,需要一款衰減比為1:1,帶寬到GHz的探頭。
       
      如何準確地測量芯片的電源噪聲
      圖4 探頭的衰減比對電源噪聲測試的影響
       
      3.3 示波器的偏置補償能力
       
      電源噪聲是疊加在芯片直流電壓上的噪聲,為此需要將示波器的偏置電壓設到與直流電壓相等的水平,再測量電源的噪聲。例如某芯片的供電電壓是3.3V,首先將示波器的偏置電壓調到3.3V,然后再測試3.3V直流電源上的噪聲波動,但是示波器在該偏置電壓的垂直擋位會受限,一般只能到20mV/div,用來測試mV級別的電源噪聲,會帶來很大的誤差。
       
      為了解決類似問題,有的工程師使用隔直電容去除直流,但會導致直流電源壓縮和丟失低頻漂移信息。如果電容值選取不當,還會影響高頻能量。
       
      如何準確地測量芯片的電源噪聲
      圖5 示波器的偏置補償能力受限
       
      如何準確地測量芯片的電源噪聲
      圖6 隔直電容影響低頻信息
       
      3.4 探頭的探接方式
       
      電路形態各異,需要有更靈活的方法來進行信號的探接。探接的穩定性和寄生參數對被測電源電路的影響不可忽視,所以需要盡量貼近芯片的管腳,并使用短地線。
                 
      如何準確地測量芯片的電源噪聲
      圖7 貼近芯片管腳,使用短地線
       
      3.5 示波器的FFT能力
       
      由于電源分布網絡PDN會受到干擾噪聲的來源,因此需要示波器具有強大的FFT分析能力,以便分析的干擾噪聲的頻率,進而排查噪聲的源頭。
       
      如何準確地測量芯片的電源噪聲
      圖8 FFT分析電源噪聲的頻譜
       
      4 羅德與施瓦茨(R&S)的芯片電源測試方案
       
      為了準確地測量芯片的電源噪聲,羅德與施瓦茨公司(R&S公司)提供了示波器主機和Power Rail電源軌探頭。
       
      4.1 測試儀器
       
      R&S公司推出的RTO/RTE系列示波器,具有百uV級別底噪,在標稱帶寬內具有1mV/div的垂直擋位(硬件實現,非放大),并具有強大的具備硬件數字下變頻器(DDC)實現的準實時頻譜分析功能,可以幫助工程師準確地測量電源噪聲,并排查干擾噪聲的來源。
                
      如何準確地測量芯片的電源噪聲
      圖9 RTO示波器(左)和RTE示波器(右)
       
      Power Rail電源軌探頭RT-ZPR20(2GHz) / RT-ZPR40(3.5GHz)具有優異的性能,專門位為電源測試量身打造。
       
      1. 在2GHz/3.5GHz帶寬內具備標準化的衰減比,保證能夠測試到GHz帶寬mV級別的電源噪聲;
      2. 探頭內置+/-60V的偏置能力,提升測試系統的偏置補償能力;
      3. 探頭具有50 kΩ 的高直流輸入阻抗,可最大程度地降低對待測電源的干擾;
      4. 探頭內部集成式 16 位數字電壓計功能可同步讀取每路電源的直流電壓數值,并可一鍵精準設置示波器的偏置電壓;
      5. 專用的同軸探測線纜可焊接到電源濾波電容的兩端,標配的點測附件則便于PCB上不同位置的輕松探測。
       
      如何準確地測量芯片的電源噪聲
      圖10 RT-ZPR20/40關鍵參數
       
       
      如何準確地測量芯片的電源噪聲
      圖11 RTO-ZPR20/40的各種連接方式與帶寬
       
      4.2 測試實例
       
      下面介紹利用RTO示波器和 Power Rail電源軌探頭RT-ZPR20測試電源噪聲,并排查噪聲來源的實例。
       
      如何準確地測量芯片的電源噪聲
      圖12 一次探接便可從時頻和域測試電源噪聲
       
      將RT-ZPR20探頭連接到測試點后,按照如下操作進行測試
       
      1. RT-ZPR20內置電壓計實現高精度DC電壓測試,測得電源電壓為3.3V;
      2. RT-ZPR20的偏置設到3.3V附近,并將示波器兩成設到10mV/div;
      3. 示波器測得電源噪聲波形,從時域波形上發現有明顯的干擾噪聲;
      4. 對電源噪聲幅值進行測試與統計;
      5. FFT頻譜分析,得到干擾噪聲的頻譜,確定噪聲的來源。
       
      5 總結
       
      R&S公司的RTO/RTE系列示波器,配以專門的電源軌探頭RT-ZPR20/40,可以準確測量芯片的電源噪聲,優異的頻譜FFT分析能力還可以快速排查電源噪聲,保證產品的可靠性。
       
       
      免責聲明:本文為轉載文章,轉載此文目的在于傳遞更多信息,版權歸原作者所有。本文所用視頻、圖片、文字如涉及作品版權問題,請聯系小編進行處理。
       
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